Оптический эмиссионный спектрометр тлеющего разряда PROFILER-2 производства компании HORIBA Jobin Yvon (Франция)
Новости
30.05.2017
Расписание вступительных испытаний в бакалавриат, магистратуру и аспирантуру на 2017-2018 г.30.05.2017
Состав комиссии и даты
Победители конференции
Программа научной конференции студентов кафедры ПМиФП и НУЦ СВС
“Прогрессивные методы определения свойств материалов, основанные на использовании нейтронного и синхротронного излучений”. Лектор: проф. Франко Рустичелли